Bergmann

Prof. Dr. rer. nat. RALF B. BERGMANN

Geschäftsführer
Optische Messtechnik und optoelektronische Systeme
E-Mail: Bergmann@bias.de
Tel.: +49 421 21858003
Assistenz: Heike Weers
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Portrait Prof. Bergmann

Forschungsschwerpunkte

Wir arbeiten im Geschäftsbereich „Optische Messtechnik und optoelektronische Systeme“ (OMOS) an photonischen Zukunftstechnologien für das 21. Jahrhundert. Dabei fokussieren wir uns auf Themen, die im weitesten Sinne der nachhaltigen Verbesserung der Lebensqualität dienen. Die Schwerpunkte liegen im Bereich der optischen Messtechnik und der zerstörungsfreien Prüfung hauptsächlich für industrielle Anwendungen. Dabei werden auch die angrenzenden Spektralbereiche wie der THz- oder der Röntgenbereich berücksichtigt. Außerdem arbeiten wir an neuen Konzepten für die 3D-Bilderzeugung und Informationsverarbeitung. Im Rahmen unserer Aktivitäten werden nicht nur Konzepte sondern auch praxistaugliche Messgeräte und praxisnahe Prototypen optischer bzw. optoelektronischer Systeme und Technologien realisiert. Der Geschäftsbereich ist in die drei Arbeitsgruppen ‚kohärente Optik und Nanophotonik‘‚ ‚geometrische Optik‘ sowie ‚zerstörungsfreie Prüfung‘ und das Kompetenzzentrum ‚Optische Messtechnik‘ gegliedert. Das Kompetenzzentrum dient dabei als ‚Schaufenster‘ und Demonstrationszentrum für Industriekunden. Zur Umsetzung unserer Ideen und Konzepte können wir nicht nur auf eine umfangreiche Laborausstattung im optischen Bereich, sondern auch auf Nanostrukturierungstechniken für photonischer Strukturen, sowie THz- und Röntgentechniken zurückgreifen.

Aktuelle Projekte

  •  Deflektometrie mit aktiver Displayregistrierung (DeflektAktiv)

Publikationen

Bibliographical data see: Google Scholar - Scopus - Web of Science - ORCID
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Eine Gesamtliste wissenschaftlicher Veröffentlichungen des BIAS finden Sie hier.

Mitgliedschaften

  • AHMT – Arbeitskreis der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Mitglied
  • DHV – Deutscher Hochschulverband, stellv. Vorsitzender des Landesverbandes Bremen
  • DGaO – Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V., Vorstandsmitglied
  • DPG – Deutsche Physikalische Gesellschaft, Mitglied
  • EOS – European Optical Society, EOS Fellow, Board of Directors, Scientific Advisory Committee, Representative der DGaO im Scientific Advisory Committee
  • JEOS:RP – Journal of the European Optical Society, Topical Editor, Member of the National Optical Society Advisory Board
  • MAPEX - Center for Materials and Processes der Universität Bremen, Principal Investigator
  • MCB – Microsystems Center Bremen, Universität Bremen
  • Netzwerk Luftfahrtforschung
  • OPTICA –(formerly: OSA Optical Society of America), Senior Member
  • PHOTONICS21, Mitglied
  • SPIE – The International Society for Optics and Photonics, SPIE Fellow
  • WLT – Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik, Mitglied

Beruflicher Werdegang

  • seit 01.07.2008 Professor im Fachbereich 1 Physik und Elektrotechnik der Universität Bremen und Geschäftsführer am BIAS – Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH
  • 2006-2008 Abteilungsleitung Physikalisches Analyselabor im Qualitätsmanagement des Geschäftsbereichs Automobilelektronik der Robert Bosch GmbH in Reutlingen
  • 2001-2006 Abteilungsleitung „Angewandte Physik“ in der Zentralen Forschung und Vorausentwicklung der Robert Bosch GmbH, Gerlingen, Schillerhöhe
  • 2000 Umhabilitation an der Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik der Universität Stuttgart im Fachgebiet „Physikalische Elektronik“
  • 1998 Habilitation an der Geowissenschaftlichen Fakultät der Universität Freiburg im Fachgebiet „Angewandte Kristallographie und Materialwissenschaften“
  • 1997-2001 Leiter der Arbeitsgruppe Kristallines Silicium am Institut für Physikalische Elektronik der Universität Stuttgart
  • 1997 Einreichung der Habilitationsschrift, Thema „Kristallisation von Si auf Glas – Schlüsseltechnologie für die Photovoltaik“
  • 1993-1997 Wissenschaftlicher Mitarbeiter am Max Planck Institut für Festkörperforschung
  • 1991-1993 Wissenschaftlicher Mitarbeiter an der University of New South Wales, Sydney, Australien
  • 1991 Wissenschaftlicher Mitarbeiter am Max-Planck-Institut für Festkörperforschung in Stuttgart
  • 1991 Promotion im Fach Physik
  • 1988-1991 Doktorarbeit am Max-Planck-Institut für Festkörperforschung in Stuttgart, Thema: „Siliziumschichten auf Siliziumdioxid – Herstellung und Charakterisierung von Schichtsystemen“
  • 1988 Diplom im Fach Physik
  • 1986-1988 Diplomarbeit am Fraunhofer-Institut für Solare Energiesysteme in Freiburg, Thema: „Untersuchung der Minoritätsträgerlebensdauer in Silicium durch Lichtpulsanregung“
  • 1985-1988 Physikstudium an der Albert-Ludwigs-Universität Freiburg
  • 1982-1985 Physikstudium an der Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg

Organisierte Konferenzen

  • “Frontiers in Optical Metrology” (TOM 10) within the “European Optical Society Biennial Meeting (EOSAM 2022), 12.-16.09.2022, Chairs: R. B. Bergmann, B. Bodermann (PTB),
  • "122. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für angewandte Optik (DGaO)", Tagungsleitung R. B. Bergmann,
    21.-23.09.2021, Bremen
  • “Frontiers in Optical Metrology” (TOM 6) within the “European Optical Society Biennial Meeting (EOSAM 2020),
    07.-11.09.2020, Chairs: R. B. Bergmann, B. Bodermann (PTB), online meeting
  • “Frontiers in Optical Metrology” (TOM 6) within the “European Optical Society Biennial Meeting (EOSAM 2018) in Delft, 08.-12.10.2018, Chairs: R. B. Bergmann, B. Bodermann (PTB)
  • “Frontiers in Optical Metrology“ (TOM 6) within the „European Optical Society Annual Meeting“ (EOSAM 2016) in Berlin, 26.-30.09.2016, Chairs: R. B. Bergmann, O. El Gawhary, VSL-Dutch Metrology Institute, NL)
  • “Workshop “Gradient Based Optical Metrology”, 01.-02.10.2015 in Bremen, Leitung: R. B. Bergmann
  • „Si-Photonics“ (TOM 2) within the „European Optical Society Annual Meeting“ (EOSAM 2014) in Berlin, 15.-18.09.2014, Chairs: R. B. Bergmann, G. Reed (University of Southampton, GB)
  • „Si-Photonics“ (TOM 2) within the „European Optical Society Annual Meeting“ (EOSAM 2012) in Aberdeen, 25.-28.09.2012, Chairs: R. B. Bergmann, A. Garcia-Ortiz (ITEM) and G. Reed (University of Southampton, GB)
  • „1st EOS Topical Meeting (TOM) on Micro- and Nano-Optoelectronic Systems“, 07.-09.12.2011 in Bremen, Chairs: R. B. Bergmann und W. Lang (IMSAS)
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